お知らせ
SWTest Asia 2024へ参加しました
当社は、このたび、日本で初開催されました半導体の検査に関する国際カンファレンス「SWTest Asia 2024」にシルバースポンサーとして参加しました。
多くの方々に当社ブースにお立ち寄りいただき心より感謝申し上げます。
また、テクニカルセッションにおいても、たくさんの方に聴講いただき重ねてお礼申し上げます。
更に詳しい説明などをご要望のお客様は以下までお気軽にお問い合わせください。
FICT展示会事務局 fict-exhibition@fict-g.com
ブースの様子
テクニカルセッション
タイトル：「Space Transformer Organic Technologies for Next-Generation Probe Card Substrates」
発表者 ： 野坂 陽
内容 :
"The two primary challenges the probe card manufacturers face in developing next-generation probe card substrates are improving pin pitch and increasing pin count. The presentation aims to share our proactive approach to addressing these challenges using key organic technologies for space transformers. Our goal is to achieve a pin pitch of less than 30μm by 2026, along with more than 20 buildup layers by 2030. We will highlight the latest data on our multi-layer glass substrate technology, which we believe will pave the way for new advancements."
プレゼンテーションの内容は近々SWTest Asia 2024 サイトからダウンロードできるようになります。
SWTestAsia 2024 ARCHIVE : https://www.swtest.org/archive/
